Přejít k obsahu

NTC-PAT-16-001

Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů

Autoři:
Doc. Ing. HONNER Milan Ph.D. (61930)
Ing. VESELÝ Zdeněk Ph.D. (61930)


Číslo projektu:
CZ.1.05/2.1.00/03.0088, FRTI1/273

Abstrakt - český jazyk:
Totální emisivita povrchů materiálů se zjišťuje tak, že vzorek (1) umístěný v držáku (4) vzorků má na přední straně
nanesen analyzovaný povlak (2). Na části analyzovaného povlaku (2) je nanesen referenční povlak (3). Referenční povlak
(3) je rovněž nanesen na zadní stranu vzorku (1). Ze zadní strany vzorku (1) je prováděn laserový ohřev. Z přední strany
vzorku (1), z místa analyzovaného povlaku (2) je snímán radiační tepelný tok a z přední strany vzorku (1), z místa
referenčního povlaku (3) je bezkontaktně snímána povrchová teplota. Záznam radiačního tepelného toku a povrchové
teploty při chladnutí vzorků umožňuje stanovit totální emisivitu analyzovaného povrchu.

patentová přihláška

Patička