Funkční vzorek měřicího systému pro analýzy emisivity propustných povlaků za pokojové teploty
Autoři:
- Honnerová Petra (TTP) [40 %]
- Martan Jiří (TTP) [30 %]
- Veselý Zdeněk (TTP) [15 %]
- Honner Milan (TTP) [15 %]
Číslo projektu:
(ORG-MŠMT-CENTEM+-CT3) CENTEM+ VP CT3 – ED2.1.00/03.0088 + LO1402
Abstrakt:
Měřicí systém se skládá z FTIR spektrometru Nicolet 6700, nástavce pro měření propustnosti a odrazivosti - integrační sféry a standardů odrazivosti. V případě měření odrazivosti, záření z vnitřního zdroje spektrometru vstupuje do nástavce pro měření odrazivosti – integrační sféry a dopadá na otočné zrcátko, které jej odráží na analyzovaný vzorek nebo standard odrazivosti (Molybden). Záření dopadající na vzorek je odraženo do integrační sféry. Záření odražené od povrchu vzorku je v integrační sféře několikrát odraženo, dokud neuniká detektorovým portem na detektor. Výhodou integrační sféry je sběr záření odraženého do všech směrů, což umožňuje stanovit absolutní hodnotu odrazivosti pro obecně libovolný vzorek (libovolnou drsnost povrchu). V případě měření propustnosti, záření z vnitřního zdroje spektrometru dopadá na propustný vzorek umístěný v nástavci pro měření propustnosti a vložený do vzorkového portu integrační sféry. Přímo nebo difúzně vzorkem propuštěné záření dopadá na otočné zrcátko, které jej odráží na difuzní standard odrazivosti umístěným na integrační sféře. Od povrchu standardu je záření odraženo do integrační sféry. Záření prošlé vzorkem a odražené od povrchu standardu je v integrační sféře několikrát odraženo, dokud neuniká detektorovým portem na detektor. Výhodou integrační sféry je sběr záření propuštěného vzorkem do všech směrů, což umožňuje stanovit absolutní hodnotu propustnosti pro obecně libovolný vzorek (libovolnou drsnost povrchu a rozptyl v objemu materiálu). Vnitřní povrch integrační sféry je opatřen vysoce-odrazivým zlatým povlakem, který zajišťuje odraz (rozptyl) dopadajícího záření do všech směrů, tj. do celé hemisféry. Touto měřicí aparaturou jsou měřeny propustné povlaky deponované na propustný substrát se dvěma rozdílnými tloušťkami. Z měřených hodnot lze stanovit spektrální emisivitu povlaků v závislosti na tloušťce povlaku ve spektrálním rozsahu od 2 μm do 20 μm.